| 品牌 | 昊量光電 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,綜合 |
一.多端口光器件IL、PDL波長掃描快速測試系統(tǒng)產(chǎn)品概述
波長掃描快速測試系統(tǒng)由可調(diào)諧激光源、高速光功率計(jì)平臺組成，配合集成了相關(guān)算法的上位機(jī)軟件，可以快速完成光器件不同波長下的 IL（插入損耗）、PDL（偏振相關(guān)損耗）、ILavg（平均插入損耗）測試。該系統(tǒng)可廣泛應(yīng)用于密集波分復(fù)用模塊（DWDM）、波長選擇開關(guān)（WSS）和集成光芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和測試。
二.多端口光器件IL、PDL波長掃描快速測試系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)
體積小、集成度高，系統(tǒng)只需兩臺儀器便可完成所有測量
精度高，速度快?
分辨率：0.1pm?
IL 重復(fù)性：±0.02dB?
PDL 重復(fù)性：±0.01dB?
IL 測量時(shí)間：≤3s（波長范圍 100nm，掃描速度 50nm/s）?
PDL 測量時(shí)間：≤12s（波長范圍 100nm，掃描速度 50nm/s）
擴(kuò)展性高，機(jī)框支持級聯(lián)，通道數(shù) N≥144
支持使用動(dòng)態(tài)鏈接庫（DLL）開發(fā)定制軟件
三.多端口光器件IL、 PDL波長掃描快速測試系統(tǒng)技術(shù)規(guī)范
掃描速度 | nm/s | 1-200 |
IL 測量范圍 | dB | 70 |
IL 測量時(shí)間 | sec | 3（波長范圍 100nm，掃描速度 50nm/s） |
PDL 測量時(shí)間 | sec | 12（波長范圍 100nm，掃描速度 50nm/s） |
ILavg 測量時(shí)間 | sec | 6（波長范圍 100nm，掃描速度 50nm/s） |
分辨率 | pm | 0.1 |
IL 準(zhǔn)確度（典型值） | dB | ±0.02（IL 在 0-40 dB） |
±0.05（IL 在 40-50 dB） | ||
±0.5（IL 在 50-65 dB） | ||
±1.0（IL 在 65-70 dB） | ||
IL 重復(fù)性（典型值） | dB | ±0.02 |
IL 分辨率 | dB | 0.001 |
PDL 精度（典型值） | dB | ±(0.02 + 3％ of PDL) |
PDL 重復(fù)性（典型值） | dB | ±0.01 |
PDL 動(dòng)態(tài)范圍（典型值） | dB | 25 |
PDL 分辨率 | dB | 0.001 |
通信 | - | 網(wǎng)口 |
環(huán)境適應(yīng)性：以上所有指標(biāo)均在(23±5)℃，60%RH 以下環(huán)境下，使用高精度測試完成。
四.多端口光器件IL、 PDL波長掃描快速測試系統(tǒng)典型應(yīng)用
IL 測量接線示意圖 普通測試：光源輸出不經(jīng)過分束模塊。
高精度測試：光源輸出經(jīng)過分束模塊。分束模塊參考接口接光功率計(jì)參考通道，分束模 塊輸出接口接待測件輸入。
PDL/ILavg 測量接線示意圖 普通測試：偏振發(fā)生器輸出不經(jīng)過分束模塊。
高精度測試：偏振發(fā)生器輸出經(jīng)過分束模塊。分束模塊參考接口接光功率計(jì)參考通道， 分束模塊輸出接口接待測件輸入。
五.多端口光器件IL、 PDL波長掃描快速測試系統(tǒng)操作界面
六.多端口光器件IL、 PDL波長掃描快速測試系統(tǒng)訂貨信息
名稱 | 說明 |
可調(diào)諧光源 | CL波段 |
O波段 | |
高速光功率計(jì)平臺 | 槽位數(shù) 5 個(gè) |
光功率計(jì)模塊 | -70dB-+5dB |
一個(gè)模擬輸出口（SMA） | |
偏振態(tài)發(fā)生器模塊 | CL 波段 |
O 波段 | |
分束模塊 | 光接口 FC/UPC |
光接口 FC/APC |
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